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Keynotes & Papers
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Keynote Presentation
2024 – Test Innovations: Crossing the Chasm to a Chiplet Ecosystem at 3D Systems Summit
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2024 – Expediting manufacturing safe launch with Big Data AI/ML analytic solutions on the cloud
Published Paper
EDTM 2022 - 検査とモニタリングのための新しい電子ビーム技術
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EDTM 2022 - BEOLオーバーレイとプロセス・マージン特性の新手法
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NANOTS 2021 - ダイレクトスキャンによる先進の高スループットeビーム検査
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APCSM 2020 - 機械学習と高度な異常値検出の組み合わせによる品質向上とコスト削減
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IEEE S3S 2019 - FDSOI技術における特性評価の課題とソリューション
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IEEE JEDS 2019 - 新興メモリの特性を評価するショートフローテストアレイの設計と測定要件
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EDTM 2019 - 7nm以下における歩留まりと信頼性の課題
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EDTM 2019 - 新興メモリの特性を評価するショートフローテストアレイの設計と測定要件
Published Paper
IEEE Transactions 2015 - FinFET技術特性評価のためのコンタクトチェーン
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