概要- 新興の不揮発性メモリは、組み込みやストレージクラスのアプリケーションにとってますます魅力的になってきている。バックエンド集積メモリセルの開発課題として、学習サイクルの長さとウェハコストの高さが挙げられる。我々は、クロスポイントアレイアプローチを用いたメモリアレイのショートフローベースの特性評価を提案する。設計要件とテスタビリティの詳細分析により、ターンアラウンドタイムと開発コストを削減するショートフローベースのソリューションの実現可能性を確認する。
キーワード - 新興メモリ、クロスポイント、メモリアレイ、セル特性、MRAM、PCRAM、DFM