ユニークで堅牢な特性評価機能
PDF Solutions is the acknowledged commercial leader in parametric characterization systems, pioneering the use of short-flow test chips for developing and ramping new technologies and products, and has hundreds of validated results from Integrated Yield Ramp engagements over the past two decades. The CV® System is now also available on a subscription basis.
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当社の特性評価車両システム
<pr>CVシステムは、差別化されたパラメトリック電気データを提供し、Exensio Analyticsプラットフォームと組み合わせると、設計の反復を大幅に短縮し、市場投入までの時間を最大3か月短縮する実用的な洞察を提供します。</pr>
The CV System is the combination of high-density CV test chip layouts targeted to our proprietary pdFasTest® parallel parametric tester, producing data 100x faster than conventional test chip systems with automatic ingestion into the Exensio® Analytics Platform. The entire stack is optimized to generate clean data labeled with all key design attributes for efficient summary and drilldown analysis.
<pr>CVシステムは、サブPPB（10億分の1）の統計分解能、幅広いレイアウトパターンの実験計画法（DoE）、面積効率、および自動分析を提供します。ビジネス目標は、比類のないターンアラウンドタイムで達成されます。ショートフロー製造は、処理時間から数週間から数か月を短縮し、フルレチクルCVのロット全体の100％テストと分析を1日未満で完了できます。</pr>
車両テストチップの特性評価
PDF Solutionsは、10 nm以下で100以上のCVテストチップを提供しています。CVテストチップは、高歩留まりで安定した生産を検証および監視するために重要なプロセスレイアウトの相互作用を表すことが証明されています。各CVテストチップは、何十年にもわたる業界での経験、独自のレイアウト、および製品設計スタイルやプロセステクノロジーに合わせてカスタマイズされたDoEの恩恵を受けています。
ファブレスのCVシステム
初めての製品のテープアウトは、ビジネスの成功にとって重要です。 WIPの最適化と利益のためには、安定した大量生産が必要です。 ファブレス向けのCVシステムは、パラメトリックな洞察を提供して、目標の達成を支援します。 MPW CV、Product Detective CV、およびDirect Probe CVテストチップは、量産前に機能的およびパラメトリックな問題を明らかにするために必要な洞察を提供します。 Scribe CVテストチップとCVコアIPブロックは、監視と迅速な診断機能を提供し、最適なコストで高品質の量産を実現します。
CV System for Foundries and IDM’s
初めての製品のテープアウトは、ビジネスの成功にとって重要です。WIPの最適化と利益のためには、安定した大量生産が必要です。ファブレス向けのCVシステムは、パラメトリックな洞察を提供して、目標の達成を支援します。MPW CV、Product Detective CV、Direct Probe CVテストチップは、量産前に機能的およびパラメトリックな問題を明らかにするために必要な洞察を提供します。Scribe CVテストチップとCVコアIPブロックは、監視と迅速な診断機能を提供し、最適なコストで高品質の量産を実現します。
量産における堅牢性と予測可能性を最大化
特性評価用車両が提供する広範なデバイス特性データと、Exensio Analytics Platformの製品テストデータ分析を組み合わせることで、正確な製品固有のパフォーマンスモデリングが可能になり、製品固有の最適なプロセス設定を実現し、製造の堅牢性と予測可能性を最大化します。
