ユニークで堅牢な特性評価能力

PDF Solutionsは、パラメトリック特性評価システムの商業的リーダーとして認められており、新技術や新製品の開発およびランプにショートフローテストチップを使用する先駆者であり、過去20年以上にわたるIntegrated Yield Rampの取り組みから数百の検証結果を持っています。 CV®システムは現在、サブスクリプション・ベースでもご利用いただけます。

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当社の特性評価車システム

CVシステムは、差別化されたパラメトリック電気データを提供し、Exensio Analytics Platformと組み合わせることで、設計の繰り返しを大幅に短縮し、市場投入までの時間を最大3カ月短縮する実用的な洞察を提供します。

CV システムは、当社独自のパラレルパラメトリックテスター pdFasTest® をターゲットとした高密度 CV テストチップレイアウトの組み合わせであり、従来のテストチップシステムの 100 倍の速度でデータを生成し、Exensio® Analytics Platform に自動的に取り込みます。 スタック全体が最適化され、すべての主要な設計属性がラベル付けされたクリーンなデータが生成されるため、効率的なサマリーとドリルダウン解析が可能です。

CVシステムは、サブPPB（parts-per-billion）の統計分解能、幅広いレイアウトパターンDesign-of-Experiments（DoE）、面積効率、自動分析を提供します。ビジネス目標は、他の追随を許さないターンアラウンドタイムで達成されます。ショートフロー製造は、処理時間を数週間から数ヶ月短縮し、フルレティクルのCVの全ロットの100%テストと分析は、1日未満で完了できます。

特性評価車テストチップ

PDFソリューションズは、10nm以下のCVテストチップを100個以上提供してきました。CVテストチップは、高歩留まりで安定した生産のための検証と監視に不可欠なプロセス-レイアウト相互作用を表現することが実証されています。各CVテストチップは、当社の数十年にわたる業界経験と、お客様の製品設計スタイルやプロセス技術に合わせてカスタマイズされた独自のレイアウトやDoEを活用しています。

ファブレス用CVシステム

ビジネスの成功には、初回に正しい製品をテープアウトすることが重要です。安定した大量生産は、WIPの最適化と利益のために必要です。ファブレス用CVシステムは、お客様の目標達成を支援するパラメトリックな洞察を提供します。MPW CV、Product Detective CV、Direct Probe CVテストチップは、量産前に機能的な問題やパラメトリックな問題を発見するのに必要な洞察を提供します。Scribe CVテストチップとCVコアIPブロックは、モニタリングと迅速な診断機能を提供し、最適化されたコストで高品質の量産を実現します。

ファウンドリーとIDMのためのCVシステム

PDF Solutionsは20年以上にわたり、ファウンドリやIDMが技術開発や量産立ち上げにおいて世界トップクラスの学習率を達成できるよう支援してきました。当社の顧客は、処理、テスト、解析の時間を最小限に抑えながら、ウェーハ1枚あたりの学習量を最大化するために、ショートフローのBEOL CVおよびxFEOL CVテストチップ（フルレティクルまたは共有レティクル）を利用しています。スクライブCVは、量産時に全ウェハの空間カバレッジを提供し、重要な製品のカスタマイズを可能にし、迅速な新製品導入と継続的な歩留まり改善に必要な観察可能性を実現します。

大量生産における堅牢性と予測可能性の最大化

当社のCharacterization Vehiclesが提供する広範なデバイス特性評価データと、Exensio Analytics Platformの製品テストデータ解析を組み合わせることで、正確で製品固有の性能モデリングが可能になり、製品固有の最適なプロセス設定が実現し、製造のロバスト性と予測可能性が最大化されます。