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2025-The Overview of Silicon Carbide Technology: Status, Challenges, Key Drivers, and Product Roadmap
2025-Full-chip Voltage Contrast Inference Using Deep Learning; You Only Look Once: Voltage Contrast (YOLO-VC)
EDTM 2022 - 検査とモニタリングのための新しい電子ビーム技術
EDTM 2022 - BEOLオーバーレイとプロセス・マージン特性の新手法
NANOTS 2021 - ダイレクトスキャンによる先進の高スループットeビーム検査
IEEE S3S 2019 - FDSOI技術における特性評価の課題とソリューション
IEEE JEDS 2019 - 新興メモリの特性を評価するショートフローテストアレイの設計と測定要件
EDTM 2019 - 7nm以下における歩留まりと信頼性の課題
EDTM 2019 - 新興メモリの特性を評価するショートフローテストアレイの設計と測定要件
IEEE Transactions 2015 - FinFET技術特性評価のためのコンタクトチェーン
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