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Keynotes & Published Papers Tagged: Design for Manufacturing

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EDTM 2022 - BEOLオーバーレイとプロセス・マージン特性の新手法
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NANOTS 2021 - ダイレクトスキャンによる先進の高スループットeビーム検査
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EDTM 2019 - 7nm以下における歩留まりと信頼性の課題
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SPIE 2009 - 生き残るためのシンプル化、規定レイアウトが32nm以降のスケーリングで利益を確保
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SPIE 2009 - レギュラーデザインファブリックを用いたOPCの簡素化とマスクコスト削減
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IEEE Transactions 2008 - ナノメートルスケール技術におけるトランジスタの性能とリークのばらつき
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ISSM 2006 - ホットスポット解析のためのリソシミュレータの高速かつ正確な校正方法
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