インダストリー4.0に対応
リアルタイムデータ分析により、半導体製造環境における歩留まりの最大化、装置性能の向上、無駄の最小化を実現します。既存のプロセス制御ツールと並行して使用できます。ベースライン工場と同等の性能を持つ新しい工場を迅速かつ容易に立ち上げることができます。
プロセス制御データシートのダウンロード
プロセス制御(C-Ops)モジュールは、6インチ、8インチ、12インチのファブで、世界中のP-Opsによって管理されている40,000以上の製造ツールで、FDCのマーケットリーダーです。数百種類の半導体製造装置をサポートしています。
PDF Solutionsは、工場モデリングに独自のトップダウンアプローチを採用しています。当社の工場中心のプロセス制御アプローチは、DEX(データ交換ネットワーク)を介して自動的に収集・統合されるフロントエンドとバックエンドの両方のデータを活用し、強力なシグネチャー分析と診断を提供します。このアプローチにより、「ツールごと」の分散展開に対してより効率的な展開が可能になり、ツールおよび工場レベルでの意思決定と制御が可能になります。
FDCツールセンサーレベル診断とドリルダウンによるエクスカーションイベントの自動検出により、プロセスおよび計測シフト、パラメトリックドリフト、予防保全、消耗品イベント検出を実行。
歩留まり、デバイスパラメトリック、計測のためのツールコントロール(ダイナミックSPC)へのフィードバックを行う応答相関を駆動する高度な診断によるワンステップパラメータスクリーニング
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