インダストリー4.0向けに構築
リアルタイムのデータ分析により、歩留まりを最大化し、装置のパフォーマンスを向上させ、半導体製造環境の無駄を最小限に抑えます。 既存のプロセス制御ツールと並行して使用できます。 ベースラインのファブと同等のパフォーマンスを持つ新しいファブをすばやく簡単に起動します。
無料ダウンロード the Process Control datasheet
プロセス制御(C-Ops)モジュールは、40,000インチ、6インチ、8インチのファブで世界中のP-Opsによって管理される12を超える製造ツールを備えたFDCの市場リーダーです。 半導体製造装置の何百ものメーカーとモデルのサポート。
PDF Solutions has a unique top-down approach to fab modeling. Our fab-centric process control approach leverages both front-end and back-end data that is automatically collected and integrated via DEX (data exchange network) to provide powerful signature analysis and diagnostics. This approach enables more efficient deployment versus a “per tool” distributed deployment and enables decision and control at the tool and factory level.
FDCツールセンサーレベルの診断とドリルダウンによる遠足イベントの自動検出と、プロセスおよび計測シフト、パラメトリックドリフト、予防保守、および消耗品イベントの検出を実行します。
歩留まり、デバイスのパラメトリック、および計測のための応答制御をツール制御(動的SPC)へのフィードバックに駆動する高度な診断機能を備えたワンステップパラメータースクリーニング
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